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SEM鎢燈絲掃描電子顯微鏡
療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。
工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

應用案例
金屬材料分析

花粉微觀形態(tài)

機型選擇
CEM3000A（大樣品倉型）：70mm70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。
CEM3000B（抗振型）：專為振動環(huán)境設(shè)計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

部分技術(shù)指標





型號


CEM3000A（大樣品倉型）




電子槍

07/08 16:41