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晶圓/芯片微弱電流測(cè)試VI源表



S系列源表應(yīng)用
分立器件特性測(cè)試:電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量與效率特性測(cè)試:LED/AMOLED、太陽(yáng)能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器;
傳感器特性測(cè)試:電阻率、霍爾效應(yīng)等;
有機(jī)材料特性測(cè)試:電子墨水、印刷電子技術(shù)等;
納米材料特性測(cè)試:石墨烯、納米線等;
激光器特性測(cè)試:窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng);
功率器件:靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng);
電流傳感器:動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng);

普賽斯歷時(shí)多年打造了高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、率先國(guó)產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一
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