標(biāo)準(zhǔn)器件測試程序，直接調(diào)用測試簡便；
自動實時參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)；
在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線；
提供靈活的夾具定制方案，兼容性強；
免費提供上位機軟件及SCPI指令集；
典型應(yīng)用：
納米、柔性等材料特性分析；
二極管；
MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；
第三代半導(dǎo)體材料/器件；
有機OFET器件；
LED、OLED、光電器件；
半導(dǎo)體電阻式等傳感器；
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；
電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量；
太陽能電池；
非易失性存儲設(shè)備；
失效分析；
系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格
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普賽斯數(shù)字