微弱，納米材料測試多為樣品研發(fā)試驗階段，需要測試樣品在單位面積產生的電壓或電流微弱信號。尤其是電流信號，可低至nA，甚至pA級。因此，這就要求測試儀表，具有準確的微弱信號檢測能力。
外部噪聲干擾，由于納米材料測試信號弱，且部分材料特性易受外部環(huán)境變化干擾，這就需要在測試中對與測試無關的外部環(huán)境噪聲，進行有效屏蔽。比如采用四線制測試，降低線損壓降；采用三同軸Guard方式降低線纜漏電流等等方式。
測試方式多樣，多數(shù)納米材料在光，熱，濕度等外部環(huán)境的激勵下，具有一定的響應特征。因此，在對納米材料的研發(fā)中，常需